홈 > 시험·분석 > 성분/물성 분석 > 성분/분석 기기

성분/분석 기기

ED-XRF

ED-XRF 장비 정보
장비명 국문 ED-XRF
영문 EDXRF SYSTEM
분야용도 고체, 분말, 액체시료를 전처리하지 않고 비파괴 상태에서 타겟원소 조성비 측정
장비 설명
(기기 원리,
가능 항목
or 원소)
X-ray 형광 분광기는 원소가 지니는 전자의 상위 에너지 궤도에서 하위 에너지 궤도로 전이하며 발생하는 형광의 특정 에너지의 세기를 통하여 타겟원소의 조성비를 측정합니다.
ED-XRF 장비는 샘플의 조성에 따라 발생되는 에너지 라인의 산포를 검출된 스펙트럼으스부터 순면적을 구하여 각각의 피크에 따른 원소를 성분별 또는 에너지별로 환산합니다. 시료를 전처리 하지 않고 비파괴 분석을 할 수 있으며, 주기율표상의 많은 원소를 수십퍼센트 에서 미량까지 신속하고 정확하게 분석할 수 있으며 고체시료나, 분말시료, 액체시료의 분석이 가능합니다.
구조 (그림) ED-XRF 구조(그림)1ED-XRF 구조(그림)2ED-XRF 구조(그림)3
주요 제품군 목재, 석탄, 오일 등 유기성 물질  

기술 문의 : 042-936-6020 (바이오에너지팀)

접수 및 결제 문의: Tel. 042-933-6019


목록

공용시험분석의뢰서
다운로드
Test Request Form
다운로드