시험·분석
성분/분석 기기
ED-XRF
장비명 | 국문 | ED-XRF |
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영문 | EDXRF SYSTEM | |
분야용도 | 고체, 분말, 액체시료를 전처리하지 않고 비파괴 상태에서 타겟원소 조성비 측정 | |
장비 설명 (기기 원리, 가능 항목 or 원소) |
X-ray 형광 분광기는 원소가 지니는 전자의 상위 에너지 궤도에서 하위 에너지 궤도로 전이하며 발생하는 형광의 특정 에너지의 세기를 통하여 타겟원소의 조성비를 측정합니다. ED-XRF 장비는 샘플의 조성에 따라 발생되는 에너지 라인의 산포를 검출된 스펙트럼으스부터 순면적을 구하여 각각의 피크에 따른 원소를 성분별 또는 에너지별로 환산합니다. 시료를 전처리 하지 않고 비파괴 분석을 할 수 있으며, 주기율표상의 많은 원소를 수십퍼센트 에서 미량까지 신속하고 정확하게 분석할 수 있으며 고체시료나, 분말시료, 액체시료의 분석이 가능합니다. |
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구조 (그림) | ||
주요 제품군 | 목재, 석탄, 오일 등 유기성 물질 |