홈 > 시험·분석 > 성분/물성 분석 > 성분/분석 기기

성분/분석 기기

파장분산형 XRF

파장분산형 XRF 장비 정보
장비명 국문 파장분산형 XRF
영문 WD-XRF
분야용도 고체, 분말, 액체시료를 간단한 전처리를 통해 비파괴 상태에서 타겟원소 조성비 측정
장비 설명
(기기 원리,
가능 항목
or 원소)
XRF(X-Ray Fluorescence spectroscopy)는 X선 형광분석기 라고 한다.
분석 방식에 따라 ED-XRF, WD-XRF 2가지로 구분 되며 ED-XRF는 Energy Dispersive(에너지분산형) XRF, WD-XRF는 Wavelength Dispersive(파장분산형) XRF 라고 한다.
WD-XRF 분석법은 간단한 샘플전처리(Fusion, Pressing)로 시료를 비파괴 분석할수 있으며, 안정성 및 정확한 분석 결과를 얻을 수 있도록 산업체, 공업화된 환경, 실험실등에서 여러가지 물질들에 대한 정보를 신속하게 얻을 수 있다.
WD-XRF 응용분야는
1) 시멘트: 최종제품의 품질을 확보하기 위해 원재료, 클링커, 최종시멘트에서 성분함량종도등에 대한 정밀, 정량분석 수행
2) 금속: 금속(자동차등), 합금등의 광범위한 재료 분석을 위한 순차파장분산형 WD-XRF
3) 광물: 광물의 주성분 및 미량성분 정량분석
구조 (그림) 파장분산형 XRF 구조(그림)1
주요 제품군 금속 및 합금제조, 석유화학, 과학수사, 식품분석, 환경분석 등.

기술 문의 : 042-936-6021 (화학분석팀)

접수 및 결제 문의: Tel. 042-933-6019


목록

공용시험분석의뢰서
다운로드
Test Request Form
다운로드